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技術文章

2017
4-24

Navitar鏡頭可以進行高精度測量和檢測
美國NAVITAR是的光學系統制造商和供應商，為機器視覺、檢測和生物醫學診斷行業提供全面的定制光學解決方案，用于鑒定產品、檢查產品缺陷、測量零件尺寸、操縱機器人設備和協助進行科學分析與探索。還用來引導電路板上芯片和其它表面貼元件（SMD）的安裝、導線架和球柵陣列（BGA）的檢測、對重要光纖元件進行排列和裝配，以及對平板顯示器進行檢測等。已在銷售了350000套鏡頭。在許多制造過程中需要計算機擁有“視覺”，Navitar具有創新技術的光學系統就賦予了計算機這種能力。我們的鏡頭系...
2017
4-19

Chroma濾光片的特點介紹
Chroma專門從事高精度光學鍍膜，致力于生產波譜控制，高信噪比，陡斜率的濾光片，波譜范圍從紫外到近紅外，包括帶通，多波段帶通，長通，短通，陷波，二向色鏡等。目前是Nikon,Zeiss,Leica和Olympus的主要供貨商，同時也是許多其他生物類儀器，醫療儀器，藥物研究，機器視覺，天文和激光類儀器廠家的供貨商。Chroma提供多種TIRF濾光片，應用了激光截止濾光片和帶通濾光片的TRF49900系列濾光片組，包含額外的長通濾光片，可以極大地提高截止TIRF激光的能力。所有...
2017
4-13

大功率飛秒激光光學
大功率飛秒激光光學飛秒激光光學涂層通常針對特殊的反射率，透射率和GDD光譜進行優化。這種涂層的激光誘導損傷閾值（LIDT）對于大多數應用來說不太重要。然而，大功率fs激光器正在調查中，近年來fs激光器的輸出功率大大增加（參見參考文獻1）及其中的參考文獻。因此，fs激光光學的LIDT變得越來越重要。LAYERTEC已經對fs和ps激光器的LIDT進行了詳細的研究。*如下表所示，我們發現標準寬帶和超寬帶光學器件和我們的高功率鏡的LIDT值有很大差異。標準低GDD鏡像顯示0.3J/...
2017
4-13

針對飛秒應用優化的銀鏡
針對飛秒應用優化的銀鏡圖1：優化用于波長范圍600-1000nm（AOI=0°）的fs激光器的銀鏡的反射率（a）和GDD光譜（b）圖2：優化用于波長范圍600-1000nm（AOI=45°）的fs激光器的銀鏡的反射率（a）和GDD光譜（b）特殊功能：?VIS和NIR中的高反射率?GDD?0fs2具有非常寬的反射帶?具有定義透射率的銀鏡（例如0.01％）顯示出高的LIDT值（見表1）和相同的R和GDD值，如圖1和圖2所示?極低的雜散損耗（VIS和NIR中的TS?3x10-5）?...
2017
4-13

標準質量基材
標準質量基材LAYERTEC的精密光學設備生產平面和球面的鏡面基板，玻璃和透鏡，熔融石英的棱鏡，像BK7和SF10這樣的光學玻璃以及一些結晶材料，例如。氟化鈣。在下文中，您可以找到有關標準基板規格的信息。請不要猶豫與我們其他尺寸，形狀，半徑和材料，或特殊部件，如棱鏡，標準具或彎月透鏡。規格材料熔融二氧化硅：Corning7980®或Lithosil®Q2（肖特公司）用于高功率應用的熔融二氧化硅：Suprasil®300/3001/3002（Heraeu...
2017
4-13

寬帶飛秒激光光學
標準飛秒激光光學（帶寬?120nm）?這里顯示的涂層在600nm到1000nm之間的波長范圍內的帶寬為120-150nm。?鏡子反射率非常高（R99.9...99.97％）?光譜容差為中心波長的1％?根據涂層設計，LIDT=0.1...0.3J/cm2?內部設計計算和GDD測量功能?根據客戶要求定制中心波長，GDD和TOD飛秒激光標準鏡圖1：標準低色散飛秒激光鏡的反射率（a）和GDD（b）光譜圖2：標準低色散車鏡的反射率（a）和GDD（b）光譜圖3：標準低色散泵激光鏡的反射率...
2017
4-13

標準組件
標準組件高品質的鏡面基板，玻璃和石英玻璃具有公差的PR涂層?對于R=10...30％，±2％?對于R=30...75％，±±3％?對于R=75...90％，±±2％?o±1％，R90％??開發和生產客戶特定的組件圖2：不同AOI（a）下308nm可變衰減器的透射光譜和308nm處透射率與AOI（b）的關系。在AOI=0°時，透射率從T85％變化到在AOI=45°時T=2±1％（非...
2017
4-13

銀鏡 - 示例
銀鏡-示例銀涂層結合了廣泛的反射率區域和幾乎可忽略的色散值。因為銀涂層易于腐蝕，所以通常在其頂部制造保護層。該層的厚度給出了反射率的變化，并且可以針對某一波長區域進行優化。*個例子顯示這種情況為600-1000nm。請注意，所有曲線都是根據我們的生產設計進行計算，僅作為原理曲線。有可能改變關于客戶特定數量的頻譜。示例1：Ag+保護層不同的入射角示例2：Ag增強（600-1200nm）示例3：Ag增強（700-1200nm）
2017
4-13

質量控制
質量控制LAYERTEC大力保證當前和未來產品的質量。我們的測量設備用于監督基材和鍍膜生產。例如我們定期測量?表面形式?表面粗糙度/整理質量?光譜透射和反射率?光譜相和GDD（如果適用）?使用帶OPO光源的寬帶腔衰減設置，在寬波長范圍內實現反射率測量?某些波長和脈沖長度的損傷閾值測量精密光學測量工具LAYERTEC的精密光學設備配有用于平面和球面曲面的干涉儀。具有λ/20（633nm）平坦度的平面襯底和形式公差為λ/10（633nm）的球形襯底可以提供干涉測量方案。LAYER...
2017
4-13

基材
基材特殊激光應用的基材，如腔環時間光譜或EUV鏡的特點是：??的幾何形狀：對于直徑，厚度，緯度或曲率半徑等幾何特性的公差，請參見我們目錄的第12頁??表面粗糙度??表面形狀公差??拋光表面上的缺陷數量。?LAYERTEC已經優化了所有這些參數的拋光程序。在下文中，我們展示了使用熔融二氧化硅和氟化鈣實現的一些突出的成果。規格?表面粗糙度??對于熔融二氧化硅和氟化鈣的平面基板，RMS-粗糙度??平滑彎曲的球形熔融石英表面（取決于直徑和曲率半徑）的相似結果，??即使在紫外線范圍內，...

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